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開発実績

 

半導体テスタ・オプトデバイステスタ
 
 

半導体テスタ・オプトデバイステスタ

  概要・特長
  テスタサンプル写真
テスタサンプル写真

オプトデバイステスタは、LEDやフォトトランジスタ、フォトカプラの電気的特性や輝度を検査する装置です。

測定する為のバイアス値や、良/不良品を判定するゲート値を自由に設定できるほか、測定に関する機能や外部のハンドラを制御する機能を豊富に備えています。

それらの条件やデータは、メモリーカードに設定して使用できるので、ロット切替設定がスピーディーに行えます。

※製品の外観は、機器毎に異なります。


  各種半導体テスタの設計・開発へのお問い合わせについて
 
 

製品の多くは、半導体メーカーの製造工程で、製品検査や品質管理に利用されています。開発や設計にあたっては、必要な検査項目など、充分な仕様打ち合わせが必要ですので、詳細については、こちらへお問い合わせください 



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